La iluminación de Brightfield (FB) es la técnica más común de la iluminación para el análisis metalográfico. En el FB del incidente, la trayectoria ligera viene de la fuente de luz, pasos a través de la lente objetiva, se refleja de la superficie del espécimen, devoluciones con el objetivo, y finalmente alcanza el ocular o la cámara para la observación.

Las superficies planas producen un fondo brillante debido a la reflexión de una gran cantidad de la luz de incidente en la lente objetiva, mientras que las características no-planas, tales como grietas, poros, límites de grano grabados al agua fuerte o características con reflectividad distinta, tal como precipitado y segundas inclusiones de la fase en la superficie aparecen más oscuras como luz de incidente se dispersan y se reflejan a una variedad de ángulos o aún se absorben parcialmente.

Darkfield (DF) es una técnica menos sabida pero potente de la iluminación. La trayectoria ligera para los pasos de la iluminación del DF a través de un anillo hueco externo del objetivo, caídas sobre el espécimen a un alto ángulo de la incidencia, refleja de la superficie, entonces de los pasos a través del interior de la lente objetiva, y finalmente alcanza el ocular o la cámara.

Este tipo de iluminación hace superficies planas aparecer oscuras, como la gran mayoría de la luz reflejada al alto ángulo de incidente falta el interior de la lente objetiva. Para las muestras que tienen una superficie plana con las características no-planas ocasionales – grietas, poros, límites de grano grabados al agua fuerte, etc. – la imagen del DF muestra un fondo oscuro con áreas más brillantes correspondiente a las características no-planas, que dispersan más luz en el objetivo.

         Brightfield: Solamente caídas ligeras directas en la muestra         Darkfield: Refractado solamente, difractado o reflejado
superficie, donde se absorbe o se refleja.         caídas ligeras en la superficie de la muestra. Darkfield es conveniente
los parámetros de la calidad de la imagen son brillo,       para todas las muestras con las superficies y la poder estructuradas
profundidad de la resolución, del contraste y del campo.                          también ser utilizado para visualizar las estructuras debajo de

                                                                                            límite de resolución. Las estructuras superficiales aparecen

                                                                                            brillante en un fondo oscuro.